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產品簡介
美國D*S AE1/RD1半球發射率測量儀輻射計測量儀僅對輻射熱傳輸響應，并且輸出電壓和發射率成線性關系。D&S的標度數字電壓表?RD1是AE1發射率儀讀數器，RD1通過可調旋鈕來設定電壓讀數和發射率標準體的電壓一致，當AE1測量待測樣品上時，RD1就能直接讀出發射率。
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美國D*S AE1/RD1半球發射率測量儀輻射計
品牌：Devices and Services，簡稱 D&S
AE1/RD1半球發射率測量儀是用于測量發射率的專用儀器。符合《ASTM C1371》、《JG_T 235-2014 建筑反射隔熱涂料》、《GBT 25261-2010 建筑用反射隔熱涂料》《GJB 2502.3-2006 航天器熱控涂層試驗方法 第三部分：發射率（國家軍標）》等國家發射率測量標準。
低溫加熱被測樣品，儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量換算出發射率，根據設定的標準體發射率準參數，計算并讀出被測樣品發射率。
產品特點：
高重復性：測量重復性高達±0.01，保證每次測量結果的可靠性。
操作簡單：采用電加熱設計，無需對樣品額外加熱或測溫操作。
快速測量：僅需預熱約30分鐘，每1.5分鐘即可測量一次發射率，單次測量耗時僅10 s。
高性價比：適合多種預算范圍的實驗需求，維護成本低。
重復性： ± 0.01
操作簡單：探測器采用電加熱設計，無須加熱樣品，也不需要測量溫度。
快速測量：預熱約30分鐘，每1.5分鐘測量一次發射率。
價格實惠
簡要概述
AE1/RD1發射率儀測量材料的總半球發射率，測量儀僅對輻射熱傳輸響應，并且輸出電壓和發射率成線性關系。D&S的標度數字電壓表?RD1是AE1發射率儀讀數器，RD1通過可調旋鈕來設定電壓讀數和發射率標準體的電壓一致，當AE1測量待測樣品上時，RD1就能直接讀出發射率。
把該儀器放在高發射率標準體（近似黑體）上，設定RD1來表示發射率標準參數；然后儀器就會根據這個標準，計算并直接讀出RD1上該被測目標的發射率。
AE1測量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）。可選附件AE-AD1和AE-AD3探測頭，能測量樣?品的最小直徑為1.0英寸（2.54cm）。還可以定制探頭，測量圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀表面。對于小直徑圓柱形面樣品的測量，可以測量平行放置的多個樣品。
發射率通過兩個步驟獲取：
1、把輻射計放在高發射率標準體上，設定RD1來表示發射率；
2、把輻射計放在待測樣品上并直接讀出RD1上的發射率。
美國D*S AE1/RD1半球發射率測量儀輻射計
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